HISOMET Ⅱ 高精度非接触段差測定機

ターゲットマーク像を合わせるだけで、高さ・深さ・段差などのZ軸測定を簡単に高精度で実現

ハイソメットⅡシリーズは、光学式焦点位置検出方式の非接触段差測定顕微鏡です。プリサイスフォーカスユニットの採用により、投影されたターゲットマーク像の上下の縦線を合わせるだけで、測定点の表面状態を観察しながら、高さ・深さ・段差等の高精度測定が誰でも簡単に可能となります。  変形や打痕・キズなどの心配が無いので、IC等の電子部品や精密加工部品の測定に最適です。
鏡体・
ブラケット
上下可動範囲粗動140mm、微動10mmまたは25mm
観察可能最大高さ150mm
落射照明ターゲットマーク(5種類選択)内臓照明、無段階ボリューム調光、
LED照明3W白
透過照明
※オプション
テレセントリック照明、無段階ボリューム調光、
LED照明3W白
Z軸測定範囲10mmまたは25mm(Z軸スケール選択による)
Z軸測定精度Range≦1μm(0~10mm仕様)、Range≦2μm(0~25mm仕様)
※PLLWDM40×測定時
鏡筒正立三眼傾斜角20°正立像、眼福調整範囲54~75mm、Cマウント付
レボルバー4ケ穴付き対物レンズを4本まで取付可能
対物レンズPL・PLLWD・
SPLシリーズ
無限遠補正対物レンズ(∞) 3・5・10・20・40・50・100×
接眼レンズNWF10X倍率10X、視野数16、偏芯実線クロスレチクル入り
ステージ移動量(X-Y)50×50・100×50・100×100・150×150・200×100・
200×200・300×150・300×300mm
測定精度
(ステージ送り精度)
XY共:(4+0.02L)μm L:測定長(mm)
オプション除振デスク・カメラ・モニター・演算装置・計測ソフト・
AF装置(画像処理式)
測定顕微鏡 PDFファイルダウンロード DH2カタログ DH2外観図